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測(cè)試座的溫度變化對(duì)測(cè)試結(jié)果有何影響呢?

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深圳市欣同達(dá)科技有限公司2025-04-05

在長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)測(cè)試過程,測(cè)試座的溫度變化可能會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生以下影響: 接觸電阻變化:比較大多數(shù)金屬材料的電阻會(huì)隨溫度升高而增比較大。當(dāng)測(cè)試座在連續(xù)測(cè)試過程中溫度升高時(shí),其導(dǎo)電部分(如接觸探針、線路等)的電阻也會(huì)相應(yīng)增加,導(dǎo)致接觸電阻增比較大,從而影響信號(hào)傳輸?shù)臏?zhǔn)確性,使測(cè)試得到的電壓、電流等參數(shù)出現(xiàn)偏差。 材料性能變化:測(cè)試座所使用的一些材料(如絕緣材料、彈性材料等)在溫度變化時(shí)可能會(huì)發(fā)生性能改變。例如,絕緣材料可能會(huì)因?yàn)闇囟壬叨霈F(xiàn)絕緣性能下降的情況,導(dǎo)致漏電現(xiàn)象增加,影響測(cè)試的安全性和準(zhǔn)確性;彈性材料可能會(huì)因?yàn)闇囟冗^高而失去彈性,造成接觸不良。 信號(hào)傳輸特性改變:溫度變化還可能影響測(cè)試座內(nèi)部線路的電容、電感等參數(shù),進(jìn)而改變信號(hào)傳輸?shù)奶匦裕绯霈F(xiàn)信號(hào)延遲、衰減等問題,使測(cè)試結(jié)果與實(shí)際情況不符。

深圳市欣同達(dá)科技有限公司
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簡(jiǎn)介:研發(fā)、生產(chǎn)和銷售半導(dǎo)體芯片測(cè)試插座。提供定制化的測(cè)試插座方案
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