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微波雷達寬頻測試中,欣同達測試座信號損耗控制如何??

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深圳市欣同達科技有限公司2025-03-22

在微波雷達寬頻測試中,欣同達測試座對信號損耗進行了有效控制。微波雷達系統的工作頻段較寬,不同頻段的信號特性存在差異,對測試座的信號損耗控制提出了挑戰。欣同達測試座采用了寬帶匹配技術,優化了測試座的阻抗匹配,減少了信號在傳輸過程中的反射和損耗。同時,通過采用低損耗的射頻材料和優化的電路布局,進一步降低了信號損耗。在實際測試中,欣同達測試座在微波雷達常用的寬頻范圍內,信號損耗可控制在極小范圍內,確保了測試信號的完整性和準確性,為微波雷達芯片的寬頻性能測試提供了可靠的保障。?

深圳市欣同達科技有限公司
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簡介:研發、生產和銷售半導體芯片測試插座。提供定制化的測試插座方案
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