使用維度光電BeamHere 光斑分析儀開展光斑與光束質量測量的流程 系統搭建:將 BeamHere 相機式光斑分析儀的傳感器置于激光束路徑,通過支架調節位置確保光斑完整覆蓋 sensor。使用 USB 3.0 數據線連接設備與電腦,安裝 BeamHere V3.2 軟件并完成驅動校準。 數據采集:開啟半導體激光器至穩定輸出狀態,軟件選擇 "連續采集" 模式,設置曝光時間 50μs,幀率 100fps,同步觸發激光器確保單脈沖捕捉。 參數提取:軟件自動識別光斑區域,計算 FWHM 直徑(XY 軸)、橢圓率、能量集中度等 12 項基礎參數,同時基于 ISO 11146 標準算法生成 M2 因子、瑞利長度等光束質量指標。 可視化分析:切換至 3D 視圖旋轉觀察能量分布,通過 "刀邊法" 驗證光斑對稱性,標記異常區域進行局部放大分析。 報告輸出:點擊 "生成報告" 按鈕,自動插入測試日期、激光器參數、測量曲線等內容,支持 PDF/A4 排版或自定義 LOGO 導出。高功率激光光束質量怎么測?多光斑光斑分析儀作用
維度光電BeamHere 光斑分析儀通過三大價值賦能激光應用: 效率提升:全自動化檢測流程(10 秒完成參數采集 + 1 分鐘生成報告),幫助企業將光束調試周期縮短 80% 成本優化:雙技術方案覆蓋全尺寸光斑,避免多設備購置,典型客戶設備采購成本降** 65% 質量升級:0.1μm 超高分辨率與 M2 因子分析,助力醫療激光設備能量均勻性提升至行業 ±1.2% 典型應用場景: 工業:激光切割光束實時校準,減少 25% 的材料損耗 醫療:眼科激光手術光斑能量監測,保障臨床安全性 科研:超快激光脈沖特性,推動新型激光器大功率光斑分析儀要多少錢掃描狹縫光斑分析儀有國產的嗎?
光斑分析儀通過光學傳感器將光斑能量分布轉化為電信號,結合算法分析實現光束質量評估。其傳感器采用量子阱材料設計,響應速度達 0.1μs,可捕捉皮秒級激光脈沖。Dimension-Labs 產品采用雙技術路線:掃描狹縫式通過 0.1μm 超窄狹縫逐行掃描,實現 2.5μm 至 10mm 光斑的高精度測量,配合動態增益補償技術,在千萬級功率下仍保持線性響應;相機式則利用面陣傳感器實時成像,支持 200-2600nm 全光譜覆蓋,像素分辨率達 1280×1024,動態范圍達 60dB。全系標配 M2 因子測試模塊,結合 BeamHere 軟件,可自動計算發散角、橢圓率等參數,并通過高斯擬合算法將測量誤差控制在 ±0.8% 以內,終生成符合 ISO 11146 標準的測試報告。
Dimension-Labs 推出 Beamhere 光束質量分析系統,針對激光加工、醫療設備等領域的光束質量評估需求。該系列產品通過多維度檢測模塊,可對光束能量分布進行實時可視化分析,同步獲取發散角、M2 因子等參數。支持光束整形效果驗證、聚焦光斑優化及準直系統校準三大典型應用場景,所有測試結果均符合 ISO11146 標準。可選配的 M2 測試模塊可實現光束傳播特性的全程分析,終由軟件自動生成量化評估報告。 產品優勢: 滿足測試需求的全系列產品 適配所有Beamhere光斑分析儀的M M2因子測試模塊 精心設計的分析軟件 軟件真正做到交互友好,簡單易用,一鍵輸出測試報告。用于千瓦光斑測量的大功率配件。
維度光電致力于激光領域的應用,將展示一系列針對千瓦級高功率、微米級小光斑以及脈沖激光的光束質量測量解決方案。在此次展示中,我們將拆解光斑分析儀的全系列產品,深度剖析其技術,從光學原理到智能算法,為您層層揭秘。通過實際操作演示,直觀展現產品在復雜工況下的良好的穩定性和超高測量精度。 我們將詳細介紹光斑分析儀的工作原理,包括其光學系統的設計、信號處理技術以及數據處理算法等環節。同時,我們還將展示光斑分析儀在不同應用場景中的表現,例如在工業生產、科研探索以及質量檢測等方面的實際應用案例。通過這些案例,您可以了解到光斑分析儀如何在各種復雜環境下保持高穩定性和高測量精度。 此外,針對工業生產和科研探索的不同需求,我們還將分享一系列精心打造的一站式完備方案。這些方案不僅包括光斑分析儀,還涵蓋了其他相關設備和軟件,旨在為您提供專業的技術支持和服務。我們的目標是幫助您突破技術瓶頸,在激光領域取得新的突破,從而推動整個行業的發展。工業光斑檢測儀如何選?維度光電;狹縫光斑分析儀網站
光斑分析儀都有哪些類型?多光斑光斑分析儀作用
Dimension-Labs 掃描狹縫式光斑分析儀系列采用國內的刀口 / 狹縫雙模式切換技術,覆蓋 190-2700nm 寬光譜,可測 2.5μm-10mm 光束直徑,0.1μm 超高分辨率突破傳統檢測極限。其創新設計實現三大優勢: 雙模式自適應檢測 通過軟件切換刀口 / 狹縫模式,分析 < 20μm 極小光斑形態或 10mm 大光斑能量分布,全量程無盲區。 高功率直接測量 狹縫物理衰減機制允許單次通過狹縫區域光,無需外置衰減片即可安全測量近 10W 高功率激光。 超分辨率成像 基于狹縫掃描原理實現 0.1μm 分辨率,完整捕捉亞微米級光斑細節,避免能量分布特征丟失。 設備內置正交狹縫轉動輪,通過旋轉掃描同步采集 XY 軸功率數據,經算法處理輸出光束直徑、橢圓率等 20 + 參數。緊湊模塊化設計適配多場景安裝,通過 CE/FCC 認證,適用于激光加工、醫療設備及科研領域,助力客戶提升光束質量檢測精度與效率。多光斑光斑分析儀作用