在精密光學平臺上對反射光的處理要在光路中檢測對象的反射角度,檢測不同光波波段光路中的反射率,用電學透鏡圖片來處理多光線路徑的不同光路,建立角度矩陣、波長矩陣、光源矩陣等,確定光路系統中不同光路的光學模型。雖然利用光路光學儀器可以對光路進行單個或組合的光路模擬,...

選購光學平臺時要注意以下幾點事項：①隨著眾多研究機構對質量要求的不斷提高和廠商對產品的不斷完善，目前所研制出來的款型繁多，質量也參差不齊，所以在購買前，首先要對企業進行一定的了解，比如企業的性質了解、綜合能力的了解、質量標準、制造標準、工藝路線、售后服務能務和...

預計150w可以考慮考慮中控或者頂燈的配套功率,安裝步驟也很簡單,和頂燈安裝方法基本相同,這里不再贅述，說一下安裝led的經驗吧,比如頂燈可以用一整塊的偏光鏡,建議是有對應的線路的偏光鏡,大概25cm到40cm厚,一定要有回路也就是說可以引出的電路,大概功率4...

光學平臺的平面度在使用時，實際意義不大。我們以完全平整的臺面（實際上是不可能的）來看，若長×寬×厚為：2000×1000×200mm，通常調整水平時，水平儀的小刻度為±30′，若假設實際過程中，水平方向調整精度若為5′，長度方向取2000mm，那么，臺面長度方...

大理石檢測平臺在使用過程中，不要和量具、刀具如銼刀、榔頭、車刀和鉆頭號堆積在一起，免碰傷大理石檢測平臺。也不要隨意放在機床上，免因機床振動而使大理石檢測平臺掉下來損壞。尤其是游標卡尺等，應平放在盒子里，免使尺身變形。大理石檢測平臺是檢測量具，肯定不能作為別的量...

光學平臺根據不同環境需求采用不同臺面，在日常的使用過程中如何對這些臺面進行護理呢？現在我們就來看看大理石光學平臺的保養。將系統組裝成動態的剛性結構可以保證系統內部的相對穩定性，且可以降低在外界的影響下產生共振的幾率，提高系統的穩定性。光學平臺的硬重比對于其共振...

光學平臺隔振系統的構成：光學平臺由上下面板、蜂窩內芯和U型清潔艙采用低溫恒溫粘接而成，溫度應變小。鋼質蜂窩內芯采用垂向支撐桁架蜂窩結構，U型清潔艙與蜂窩芯六邊形內壁相配合內嵌在蜂窩孔中，蜂窩孔六邊形板直接粘結到上面板，U型清潔艙用蜂窩夾層板頂著粘接在上面板，增...

晶圓級半自動面內磁場探針臺詳細參數：垂直或面內磁場探針臺，通用性設計；容納12寸晶圓，且向下兼容8寸、6寸、碎片；兼容4組探針（RF或DC測試）；提供Z軸探針平臺快速升降功能，實現高效測試；磁場強度≥330mT;直流探針（4組）或微波探針（4組）；XY電控行程...

硅光芯片耦合測試系統主要工作可以分為四個部分(1)從波導理論出發,分析了條形波導以及脊型波導的波導模式特性,分析了硅光芯片的良好束光特性。(2)針對倒錐型耦合結構,分析在耦合過程中,耦合結構的尺寸對插入損耗,耦合容差的影響,優化耦合結構并開發出行之有效的耦合工...

如何判斷探針卡的好壞：1.可以用扎五點來判斷，即上中下左右，五點是否扎在壓點內，且針跡清楚,又沒出氧化層,針跡圓而不長且不開叉.2.做接觸檢查,每根針與壓點接觸電阻是否小于0.5歐姆.3.通過看實際測試參數來判斷,探針與被測IC沒有接觸好，測試值接近于0。總之...

使用脈沖錘對平臺或面包板的表面施加一個已測量的外力，并將一個傳感器貼合在平臺或面包板表面對合成振動進行測量。探測器發出的信號通過分析儀進行讀取，并用于產生頻率響應譜（即柔量曲線）。在光學平臺的研發過程中，對平臺表面上很多點的柔量曲線進行記錄；但是，平臺四個角上...

組合透鏡耦合在許多光纖耦合系統中，常利用柱透鏡、球透鏡、自聚焦透鏡及錐形透鏡等多種光學元器件相互組合來提高整體的耦合效率。這樣的組合透鏡的組合方式多種多樣。利用組合透鏡這樣一種方法可將耦合效率大幅度提高，但裝配過程中確需要用專屬的精密夾具來做精密的調整。這樣的...

耦合是對同一波長的光功率進行分路或合路。通過光耦合器，我們可以將兩路光信號合成到一路上，主要用來用來傳送信號，實現型號的光電轉換等耦合：是指兩個或兩個以上的電路元件或電網絡等的輸入與輸出之間存在緊密配合與相互影響，并通過相互作用從一側向另一側傳輸能量的現象。耦...

硅光芯片耦合測試系統中應用到的硅光芯片是將硅光材料和器件通過特殊工藝制造的集成電路，主要由光源、調制器、探測器、無源波導器件等組成，將多種光器件集成在同一硅基襯底上。硅光芯片的具有集成度高、成本低、傳輸帶寬更高等特點，因為硅光芯片以硅作為集成芯片的襯底，所以能...

硅光芯片耦合測試系統中的硅光與芯片的耦合方法及其硅光芯片,方法包括以下步驟:將硅光芯片粘貼固定在基板上,硅光芯片的端面耦合波導為懸臂梁結構,具有模斑變換器;通過圖像系統,微調架將光纖端面與耦合波導的模斑變換器耦合對準,固定塊從側面緊挨光纖并固定在基板上;硅光芯...

硅光芯片耦合測試系統耦合掉電，是在耦合的過程中斷電致使設備連接不上的情況，如果電池電量不足或者使用程控電源時供電電壓過低、5V觸發電壓未接觸好、測試連接線不良等都會導致耦合掉電的現象。與此相似的耦合充電也是常見的故障之一，在硅光芯片耦合測試系統過程中，點擊HQ...

既然提到硅光芯片耦合測試系統，我們就認識一下硅光子集。所謂硅光子集成技術，是以硅和硅基襯底材料（如SiGe/Si、SOI等）作為光學介質，通過互補金屬氧化物半導體（CMOS）兼容的集成電路工藝制造相應的光子器件和光電器件（包括硅基發光器件、調制器、探測器、光波...

硅光芯片耦合測試系統的測試站包含自動硅光芯片耦合測試系統客戶端程序，其程序流程如下：首先向自動耦合臺發送耦合請求信息，并且信息包括待耦合芯片的通道號，然后根據自動耦合臺返回的相應反饋信息進入自動耦合等待掛起，直到收到自動耦合臺的耦合結束信息后向服務器發送測試請...

硅光芯片耦合測試系統是比較關鍵的，我們的客戶非常關注此工位測試的嚴謹性，硅光芯片耦合測試系統主要控制“信號弱”，“易掉話”，“找網慢或不找網”，“不能接聽”等不良機流向市場。一般模擬用戶環境對設備EMC干擾的方法與實際使用環境存在較大差異，所以“信號類”返修量...

硅光芯片耦合測試系統的應用技術領域,公開了光子集成芯片的新型測試系統及方法,包括測試設備和集成芯片放置設備,測試設備包括電耦合測試設備和光耦合測試設備中的一種或兩種,電耦合測試設備和光耦合測試設備可拆卸安裝在集成芯片放置機構四周,電耦合測試設備包括單探針耦合模...

硅光芯片耦合測試系統系統的服務器為完成設備控制及自動測試應包含有自動化硅光芯片耦合測試系統服務端程序，用于根據測試站請求信息分配測試設備，并自動切換光矩陣進行自動測試。服務器連接N個測試站、測試設備、光矩陣。其中N個測試站連接由于非占用式特性采用網口連接方式；...

硅光芯片耦合測試系統是比較關鍵的，我們的客戶非常關注此工位測試的嚴謹性，硅光芯片耦合測試系統主要控制“信號弱”，“易掉話”，“找網慢或不找網”，“不能接聽”等不良機流向市場。一般模擬用戶環境對設備EMC干擾的方法與實際使用環境存在較大差異，所以“信號類”返修量...

硅光芯片耦合測試系統主要工作可以分為四個部分(1)從波導理論出發,分析了條形波導以及脊型波導的波導模式特性,分析了硅光芯片的良好束光特性。(2)針對倒錐型耦合結構,分析在耦合過程中,耦合結構的尺寸對插入損耗,耦合容差的影響,優化耦合結構并開發出行之有效的耦合工...

硅光芯片耦合測試系統的應用技術領域,公開了光子集成芯片的新型測試系統及方法,包括測試設備和集成芯片放置設備,測試設備包括電耦合測試設備和光耦合測試設備中的一種或兩種,電耦合測試設備和光耦合測試設備可拆卸安裝在集成芯片放置機構四周,電耦合測試設備包括單探針耦合模...

硅光芯片是將硅光材料和器件通過特殊工藝制造的集成電路，主要由光源、調制器、探測器、無源波導器件等組成，將多種光器件集成在同一硅基襯底上。硅光芯片的具有集成度高、成本低、傳輸帶寬更高等特點，因為硅光芯片以硅作為集成芯片的襯底，所以能集成更多的光器件；在光模塊里面...

硅光芯片耦合測試系統的面向硅光芯片的光模塊封裝結構及方法,封裝結構包括硅光芯片,電路板和光纖陣列,硅光芯片放置在基板上,基板和電路板通過連接件相連,并且在連接件的作用下實現硅光芯片與電路板的電氣連通;光纖陣列的端面與硅光芯片的光端面耦合形成輸入輸出光路;基板所...

此在確認硅光芯片耦合測試系統耦合不過的前提下，可依次排除B殼天線、KB板和同軸線等內部結構的故障進行維修。若以上一一排除，則是主板參數校準的問題，或者說是主板硬件存在故障。耦合天線的種類比較多，有塔式、平板式、套筒式，常用的是自動硅光芯片硅光芯片耦合測試系統系...

硅光芯片是將硅光材料和器件通過特殊工藝制造的集成電路，主要由光源、調制器、探測器、無源波導器件等組成，將多種光器件集成在同一硅基襯底上。硅光芯片的具有集成度高、成本低、傳輸帶寬更高等特點，因為硅光芯片以硅作為集成芯片的襯底，所以能集成更多的光器件；在光模塊里面...

伴隨著光纖通信技術的快速發展,小到芯片間,大到數據中心間的大規模數據交換處理,都迫切需求高速,可靠,低成本,低功耗的互聯。目前,主流的光互聯技術分為兩類。一類是基于III-V族半導體材料,另一類是基于硅等與現有的成熟的微電子CMOS工藝兼容的材料。基于III-...

硅光芯片耦合測試系統的應用技術領域,公開了光子集成芯片的新型測試系統及方法,包括測試設備和集成芯片放置設備,測試設備包括電耦合測試設備和光耦合測試設備中的一種或兩種,電耦合測試設備和光耦合測試設備可拆卸安裝在集成芯片放置機構四周,電耦合測試設備包括單探針耦合模...