實驗中我們經常使用硅光芯片耦合測試系統獲得了超過50%的耦合效率測試以及低于-20dB的偏振串擾。我們還對一個基于硅條形波導的超小型偏振旋轉器進行了理論分析,該器件能夠實現100%的偏轉轉化效率,并擁有較大的制造容差。在這里,我們還對利用側向外延生長硅光芯片耦...

光子晶體光纖耦合系統與普通單模光纖的低損耗熔接是影響光子晶體光纖耦合系統實用化的重要技術。針對自行設計的光子晶體光纖耦合系統,對其與普通單模光纖的熔接損耗機制進行了理論和實驗研究。首先分析了影響熔接損耗的主要因素,然后理論計算了光子晶體光纖耦合系統與普通單模光...

提到硅光芯片耦合測試系統，我們來認識一下硅光子集。硅光子集成的工藝開發路線和目標比較明確，困難之處在于如何做到與CMOS工藝的較大限度的兼容，從而充分利用先進的半導體設備和工藝，同時需要關注個別工藝的特殊控制。硅光子芯片的設計目前還未形成有效的系統性的方法，設...

硅光芯片耦合測試系統系統的服務器為完成設備控制及自動測試應包含有自動化硅光芯片耦合測試系統服務端程序，用于根據測試站請求信息分配測試設備，并自動切換光矩陣進行自動測試。服務器連接N個測試站、測試設備、光矩陣。其中N個測試站連接由于非占用式特性采用網口連接方式；...

硅硅光芯片耦合測試系統及硅光耦合方法,其用以將從硅光源發出的硅光束耦合進入硅光纖,并可減少硅光束背向反射進入硅光源,也提供控制的發射條件以改善前向硅光耦合。硅光耦合系統包括至少一個平坦的表面,平坦的表面與硅光路相交叉的部分的至少一部分上設有若干擾動部。擾動部具...

光學平臺終穩定后的高度差。這個指標同負載的大小、加載的位置、加載時的速度、加速度、卸載時的速度、加速度等等指標有很大的關系，對于充氣式平臺，還有一個重要前提，就是加載前后，氣囊中空氣的壓力、溫度和質量不發生變化。不要過于看重產品某一兩項參數,應該對產品的整體進...

目前,基于SOI(絕緣體上硅)材料的波導調制器成為當前的研究熱點,也取得了許多的進展,但在硅光芯片調制器的產業化進程中,面臨著一系列的問題,波導芯片與光纖的有效耦合就是難題之一。從懸臂型耦合結構出發,模擬設計了懸臂型倒錐耦合結構,通過開發相應的有效地耦合工藝來...

光學平臺的平面度，通常是指單位面積內，被測實際表面相對其理想平面的變動量。通常國外光學平臺的平面度指標為：±0.1mm/600mm×600mm，的光學平臺，通過精密磨削工藝，將平面度指標提高到0.02～0.05mm/600mm×600mm。但嚴格意義上來說，光...

大理石檢測平臺在使用過程中，不要和量具、刀具如銼刀、榔頭、車刀和鉆頭號堆積在一起，免碰傷大理石檢測平臺。也不要隨意放在機床上，免因機床振動而使大理石檢測平臺掉下來損壞。尤其是游標卡尺等，應平放在盒子里，免使尺身變形。大理石檢測平臺是檢測量具，肯定不能作為別的量...

好的的光學平臺不只需要高精度的機器設備來加工，更需要有高科技精度的檢測手段與檢測儀器來保證，也只有好的的光學平臺才能保證高精度的科學實驗、科學研究的正常進行。同時也可通過臺面和地面振幅指標的對比，反映系統的隔振性能。如平臺振幅小于地面振幅，則平臺是隔振的，反之...

硅光芯片耦合測試系統的測試站包含自動硅光芯片耦合測試系統客戶端程序，其程序流程如下：首先向自動耦合臺發送耦合請求信息，并且信息包括待耦合芯片的通道號，然后根據自動耦合臺返回的相應反饋信息進入自動耦合等待掛起，直到收到自動耦合臺的耦合結束信息后向服務器發送測試請...

光學平臺又稱光學面包板、光學桌面、科學桌面、實驗平臺，供水平、穩定的臺面，一般平臺都需要進行隔振等措施，保證其不受外界因素干擾，使科學實驗正常進行及儀器不受振動影響性能。目前來說，有主動與被動兩大類。而被動又有橡膠與氣浮兩大類。光學平臺使用時注意事項：1、請勿...

我們公司研發的光纖耦合系統中通常存在大氣擾動、環境振動、溫度和重力變化以及器件應力釋放等動態因素引起的光束抖動和光軸偏離，當光斑偏移光纖的中心大于模場直徑2w0時，空間光將無法耦合進入單模光纖。本發明系統校正后的空間光與光纖光軸的對準偏差＜0.1w0，校正精度...

光學平臺的硬重比對于其共振頻率有著重要的影響。較高的硬重比可以提高平臺的共振頻率,從而降低其在外界影響下的振動。而且在外力作用下，具有較高硬重比的平臺可以在小的重量下產生小的變形，增加系統內部的剛性。內部采用蜂窩狀支撐結構的光學平臺可以充分的提高硬重比，達到提...

我們分析了一種可以有效消除偏振相關性的偏振分級方案,并提出了兩種新型結構以實現該方案中的兩種關鍵元件。通過理論分析以及實驗驗證,一個基于一維光柵的偏振分束器被證明能夠實現兩種偏振光的有效分離。該分束器同時還能作為光纖與硅光芯片之間的高效耦合器。實驗中我們獲得了...

光纖耦合系統，包括角錐棱鏡、傾斜反射鏡、分光鏡、第1透鏡、三維平移臺、1×2光纖分束器、標定激光器、接收終端、光電探測器、第二透鏡、第1驅動器、控制處理機和第二驅動器。標定激光器發出光束經第1透鏡準直為平行光，小部分光能量經分光鏡透射后由角錐棱鏡共軸返回，再次...

自動耦合光纖耦合系統徹底解決自動系統對操作熟練程度：系統采用多軸自動調節，同時，還解決了初始光自動查找的難題，使得員工比較容易上手。在系統中，采用了我們自己的**傳感器技術，以保證期間的間距，并確保不會出現期間的誤碰撞。如果需要，可以增加自動端面調平行的功能，...

光纖耦合系統中的光纖是一個重要參數是光信號在光纖內傳輸時功率的損耗。在過去的30多年里,由于技術的逐漸完善,普通光纖中的損耗一直在降低,目前已經趨于本征損耗。熔融硅光纖中具有較低損耗的波長約在1550nm附近,在此波長上的損耗約為0.12dB/km。對于光子晶...

硅光芯片耦合測試系統中的硅光與芯片的耦合方法及其硅光芯片,方法包括以下步驟:1、使用微調架將光纖端面與模斑變換器區域精確對準,調節至合適耦合間距后采用紫外膠將光纖分別與固定塊和墊塊粘接固定;2、將硅光芯片粘貼固定在基板上,硅光芯片的端面耦合波導為懸臂梁結構,具...

探針卡常見故障分析及維護方法：芯片測試是IC制造業里不可缺少的一個重要環節。芯片測試是為了檢驗規格的一致性而在硅片集成電路上進行的電學參數測量。硅片測試的目的是檢驗可接受的電學性能。測試過程中使用的電學規格隨測試的目的而有所不同。如果發現缺陷，產品小組將用測試...

我們公司研發的光纖耦合系統中通常存在大氣擾動、環境振動、溫度和重力變化以及器件應力釋放等動態因素引起的光束抖動和光軸偏離，當光斑偏移光纖的中心大于模場直徑2w0時，空間光將無法耦合進入單模光纖。本發明系統校正后的空間光與光纖光軸的對準偏差＜0.1w0，校正精度...

平臺振動的周期或頻率與初始(或外界)條件無關，而只與系統的固有特性有關，稱為光學平臺的固有頻率或者固有周期。通常來說，固有頻率越低，系統的隔振性能就越強。外界振動同物體的固有頻率相同時，通常會引起共振，往往不是好事，甚至會產生嚴重后果，比如：正常人體的固有頻率...

通常，參數測試系統將電流或電壓輸入被測器件（DUT），然后測量該器件對于此輸入信號的響應。這些信號的路徑為：從測試儀通過電纜束至測試頭，再通過測試頭至探針卡，然后通過探針至芯片上的焊點，到達被測器件，并后沿原路徑返回測試儀器。如果獲得的結果不盡如人意，問題可能...

自動耦合光纖耦合系統：該系統的主要特點是徹底解決了自動系統對操作人員要求熟練程度高，產品一致性不好、效率不高等缺點。系統采用多軸自動調節，兩軸傾斜采用自動調節（調節器件端面平行）。同時，還解決了初始光自動查找的難題，使得員工比較容易上手。在系統中，采用了我們自...

通過調整預制棒的結構參數能得到所需結構與尺寸的光子晶體光纖耦合系統,具有非常靈活設計自由度。不同的空氣孔結構和排布使得折射率引導型光子晶體光纖耦合系統具有特定的模式傳輸特性。特別需要指出的是,研究還發現折射率引導型光子晶體光纖耦合系統包層中空氣孔的周期排列不是...

探針臺的日常維護：無論是全自動探針測試臺還是自動探針測試臺，向工作臺都是其主要的部分。有數據表明探針測試臺的故障中有半數以上是工作臺的故障，而工作臺故障有許多是對其維護保養不當或盲目調整造成的，所以對工作臺的維護與保養就顯得尤為重要。平面電機由定子和動子組成，...

硅光芯片耦合測試系統的測試站包含自動硅光芯片耦合測試系統客戶端程序，其程序流程如下：首先向自動耦合臺發送耦合請求信息，并且信息包括待耦合芯片的通道號，然后根據自動耦合臺返回的相應反饋信息進入自動耦合等待掛起，直到收到自動耦合臺的耦合結束信息后向服務器發送測試請...

探針測試原理：參數測試系統將電流或電壓輸入被測器件，然后測量該器件對于此輸入信號的反應.從量測儀器通過電纜線至探針桿，然后通過探針點針測試點到被測器件，并后沿原路返回量測器儀。計算機在我們生活中越來越重要。計算機的主要部件是**處理器（CPU）和存儲器（RAM...

光學平臺中提到的大相對位移有別于精密位移臺中的相關概念，通常光學平臺的大相對位移指標，是指在特定的測試條件和環境中，臺面本身的變形量。比如在一個隔離了外界振動的環境中，放置負載和空載情況下，通過平面度檢測儀測量臺面的變形。臺面的尺寸，通常取300mm×300m...

光纖耦合系統分為以下幾種：1、非直接耦合：兩個模塊之間沒有直接關系，它們之間的聯系完全是通過主模塊的控制和調用來實現的數據耦合：一個模塊訪問另一個模塊時，彼此之間是通過簡單數據參數(不是控制參數、公共數據結構或外部變量)來交換輸入、輸出信息的。2、標記耦合：一...