振動(dòng)恢復(fù)時(shí)間是某一點(diǎn)上開始振動(dòng)到恢復(fù)到初始狀態(tài)所需要的很短時(shí)間。若要縮短光學(xué)平臺(tái)的振動(dòng)恢復(fù)時(shí)間，通常有兩個(gè)辦法：增大彈簧的彈性系數(shù)k。對(duì)于阻尼隔振平臺(tái)，可以換用材質(zhì)較硬的阻尼材料；對(duì)于充氣平臺(tái)，可以適度增加空氣壓力；控制光學(xué)平臺(tái)臺(tái)面的質(zhì)量。在不影響剛度的前提下...

光學(xué)平臺(tái)又稱光學(xué)桌面，供水平、穩(wěn)定的臺(tái)面，一般平臺(tái)都需要進(jìn)行隔振等措施，保證其不受外界因素干擾，使科學(xué)實(shí)驗(yàn)正常進(jìn)行。目前來說，有主動(dòng)與被動(dòng)兩大類。而被動(dòng)又有橡膠與氣浮兩大類。固體阻尼隔震光學(xué)平臺(tái)和自動(dòng)充氣平衡隔震光學(xué)平臺(tái)。光學(xué)平臺(tái)追求水平，首先加工的時(shí)候整個(gè)臺(tái)...

光學(xué)平臺(tái)固有頻率（≤2Hz）：固有頻率也稱自然頻率、自振頻率，只有在環(huán)境擾動(dòng)力頻率（f）與光學(xué)平臺(tái)的固有頻率(fo)的比值f/fo＞√2時(shí)系統(tǒng)才有隔振作用。所以光學(xué)平臺(tái)的固有頻率越低，隔振效果效果就越好。該指標(biāo)的檢測一般采用振動(dòng)頻譜分析儀及便攜式振動(dòng)分析儀來進(jìn)...

從功能上來區(qū)分有：高溫探針臺(tái)，低溫探針臺(tái)，RF探針臺(tái)，LCD平板探針臺(tái)，霍爾效應(yīng)探針臺(tái)，表面電阻率探針臺(tái)?？v觀國內(nèi)外的自動(dòng)探針測試臺(tái)在功能及組成上大同小異，即主要由x-y向工作臺(tái)，可編程承片臺(tái)、探卡／探卡支架、打點(diǎn)器、探邊器、操作手柄等組成，并配有與測試儀（T...

半導(dǎo)體測試是半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中的重要環(huán)節(jié)，其測試設(shè)備包括測試機(jī)、分選機(jī)、探針臺(tái)。其中，測試機(jī)是檢測芯片功能和性能的專業(yè)設(shè)備，分選機(jī)和探針臺(tái)是將芯片的引腳與測試機(jī)的功能模塊連接起來的專業(yè)設(shè)備，與測試機(jī)共同實(shí)現(xiàn)批量自動(dòng)化測試。受益于國內(nèi)封裝測試業(yè)產(chǎn)能擴(kuò)張，半導(dǎo)體測試...

目前精密光學(xué)儀器產(chǎn)品種類繁多,是為了在重復(fù)測量過程中對(duì)產(chǎn)品的每一步光路進(jìn)行精確計(jì)算,保證一切不可修改并可重復(fù)執(zhí)行的數(shù)據(jù)上報(bào)數(shù)據(jù)，精密光學(xué)儀器的工作原理主要是通過光學(xué)儀器的光學(xué)原理實(shí)現(xiàn)的。光學(xué)儀器經(jīng)受適當(dāng)?shù)姆瓷涔夂头瓷浣?獲得光路模擬圖像，這些圖像是光學(xué)儀器可讀...

探針臺(tái)由于動(dòng)子和定子間無相對(duì)摩擦故無磨損，使用壽命長。而定子在加工過程中生產(chǎn)廠家根據(jù)不同的設(shè)計(jì)要求如分辨力等，用機(jī)加工的方法在一平面的鐵制鑄件上加工出若干個(gè)線槽，線槽間的距離即稱為平面電機(jī)的齒距，而定子則按不同的細(xì)分控制方式，按編制好的運(yùn)行程序借助于平面定子和...

探針臺(tái)大家不陌生了，是我們半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室電性能測試的常用設(shè)備，也是各大實(shí)驗(yàn)室的熟客。優(yōu)點(diǎn)太多了，成本低，用途廣，操作方便，對(duì)環(huán)境要求也不高，即使沒有超凈間，普通的壞境也可以配置，測試結(jié)果穩(wěn)定，客觀。深受工程師們的青睞。手動(dòng)探針臺(tái)用途：探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、...

為什么要用隔振光學(xué)平臺(tái)？行業(yè)必備之神器，光學(xué)氣浮隔振平臺(tái)。隔振平臺(tái)，隔離外界的振動(dòng)。陽明先生說過，不以物喜不以己悲，心不動(dòng)，隔振平臺(tái)也是不以外振而振，俗稱波瀾不驚。隔振的原理，在汽車上用的很多，比如彈簧減振，開車在石子路上顛簸，咱在車?yán)镲L(fēng)輕云淡。鑒別方法：光學(xué)...

光學(xué)隔振平臺(tái)普遍運(yùn)用于各個(gè)領(lǐng)域中，應(yīng)用對(duì)系統(tǒng)中不同元件相關(guān)配合精度和穩(wěn)定性提出了極高的要求，那么光學(xué)隔振平臺(tái)有哪些特點(diǎn)來滿足使用需求呢？1、優(yōu)異的隔振性能：內(nèi)置精密空氣彈簧隔振系統(tǒng)，具備出色的固有頻率，對(duì)多個(gè)方向的振動(dòng)特別是垂直方向有著良好衰減效果，避免外界振...

高精度探針臺(tái)：目前世界出貨量的型號(hào)吸收了很新的工藝科技例如OTS，QPU和TTG相關(guān)技術(shù)，這種全新的高精度系統(tǒng)為下一代小型化的設(shè)計(jì)及多種測試條件提供保證。特性1：OTS-近的位置對(duì)正系統(tǒng)（光學(xué)目標(biāo)對(duì)準(zhǔn)）OTS通過對(duì)照相機(jī)相對(duì)位置的測量來保證其位置的精度。這是非...

平面電機(jī)的定子及動(dòng)子是完全暴露在空氣中，所以潮濕的環(huán)境及長時(shí)期保養(yǎng)不當(dāng)將很容易使定子發(fā)生銹蝕現(xiàn)象，另外重物的碰撞及堅(jiān)銳器物的劃傷都將對(duì)定子造成損傷，而影響平面電機(jī)的步進(jìn)精度及使用壽命，對(duì)于已生銹的定子可以用天然油石輕輕地向一個(gè)方向打磨定子的表面，然后用脫脂棉球...

據(jù)SEMI數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)，2020年及2021年，全球半導(dǎo)體測試設(shè)備市場規(guī)?；?qū)⒎謩e達(dá)到52.2億美元及56.1億美元。隨著國內(nèi)半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展，多個(gè)晶圓廠及實(shí)驗(yàn)室的建立，國內(nèi)探針臺(tái)市場規(guī)模2019年約為10.25億元，2022年將增長到15.69億元。隨著半導(dǎo)體行...

探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查測試等用途。探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu)，測試人員把需要量測的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)(chuck)上，...

探針臺(tái)主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個(gè)測試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格的芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測試及探卡測試針臺(tái)座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。半導(dǎo)體指常溫下導(dǎo)電性能介于導(dǎo)體與絕緣體之間的材料，下面就由上海...

探針氧化:通常探針是由鎢制成的，它如果長期不用，針尖要形起氧化，針尖如果氧化，接觸電阻變大,測試時(shí)參數(shù)測不穩(wěn)，為了不使它氧化，我們平時(shí)必須保護(hù)好探針卡，把它放在卡盒里，存放在氮?dú)夤裰?，防止探針的加快氧化，同時(shí)測片子時(shí)，用細(xì)砂子輕輕打磨針尖并通以氮?dú)猓瑴p緩氧化過...

為什么要射頻探測？由于器件小形化及高頻譜的應(yīng)用，電路尺寸不斷縮小，類似微帶線及PCB版本Pad的測試沒有物理接口，使得儀表本身無法與待測物進(jìn)行直接連接，如果人為的焊接射頻接口難免會(huì)引入不確定的誤差，所以射頻探針的使用完美的解決了這個(gè)問題。射頻探頭和校準(zhǔn)基板允許...

探針臺(tái)從操作上來區(qū)分有：手動(dòng)，半自動(dòng)，全自動(dòng)。從功能上來區(qū)分有：高溫探針臺(tái)，低溫探針臺(tái)，RF探針臺(tái)，LCD平板探針臺(tái)，霍爾效應(yīng)探針臺(tái)，表面電阻率探針臺(tái)?？v觀國內(nèi)外的自動(dòng)探針測試臺(tái)在功能及組成上大同小異，即主要由x-y向工作臺(tái)，可編程承片臺(tái)、探卡／探卡支架、打點(diǎn)...

探針卡常見故障分析及維護(hù)方法：芯片測試是IC制造業(yè)里不可缺少的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。芯片測試是為了檢驗(yàn)規(guī)格的一致性而在硅片集成電路上進(jìn)行的電學(xué)參數(shù)測量。硅片測試的目的是檢驗(yàn)可接受的電學(xué)性能。測試過程中使用的電學(xué)規(guī)格隨測試的目的而有所不同。如果發(fā)現(xiàn)缺陷，產(chǎn)品小組將用測試...

手動(dòng)探針臺(tái)的使用方式：1.將樣品載入真空卡盤，開啟真空閥門控制開關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。2.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺(tái)，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺(tái)將樣品待測試點(diǎn)移動(dòng)至顯微鏡下。4.顯微鏡...

從功能上來區(qū)分有：高溫探針臺(tái)，低溫探針臺(tái)，RF探針臺(tái)，LCD平板探針臺(tái)，霍爾效應(yīng)探針臺(tái)，表面電阻率探針臺(tái)?？v觀國內(nèi)外的自動(dòng)探針測試臺(tái)在功能及組成上大同小異，即主要由x-y向工作臺(tái)，可編程承片臺(tái)、探卡／探卡支架、打點(diǎn)器、探邊器、操作手柄等組成，并配有與測試儀（T...

相對(duì)于平面電機(jī)工作臺(tái)，絲杠導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)結(jié)構(gòu)組成較復(fù)雜，工作臺(tái)由上層(x向)及下層(y向)兩部分組成。工作臺(tái)由兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)分別驅(qū)動(dòng)x、y向精密滾珠絲杠副帶動(dòng)工作臺(tái)運(yùn)動(dòng)，導(dǎo)向部分采用精密直線滾動(dòng)導(dǎo)軌。由于運(yùn)動(dòng)部分全部采用滾動(dòng)功能部件，所以具有傳動(dòng)效率高、摩擦力...

晶圓級(jí)半自動(dòng)面內(nèi)磁場探針臺(tái)詳細(xì)參數(shù)：垂直或面內(nèi)磁場探針臺(tái)，通用性設(shè)計(jì)；容納12寸晶圓，且向下兼容8寸、6寸、碎片；兼容4組探針（RF或DC測試）；提供Z軸探針平臺(tái)快速升降功能，實(shí)現(xiàn)高效測試；磁場強(qiáng)度≥330 mT;直流探針（4組）或微波探針（4組）；XY電控行...

探針臺(tái)分類探針臺(tái)從操作上來區(qū)分有：手動(dòng)探針臺(tái)、半自動(dòng)探針臺(tái)和全自動(dòng)探針臺(tái)。從功能上來區(qū)分有：溫控探針臺(tái)、真空探針臺(tái)（很低溫探針臺(tái)）、RF探針臺(tái)、LCD平板探針臺(tái)、霍爾效應(yīng)探針臺(tái)和表面電阻率探針臺(tái)。高精度探針臺(tái)：目前世界出貨量的型號(hào)吸收了新的工藝科技例如OTS，...

據(jù)SEMI數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)，2020年及2021年，全球半導(dǎo)體測試設(shè)備市場規(guī)模或?qū)⒎謩e達(dá)到52.2億美元及56.1億美元。隨著國內(nèi)半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展，多個(gè)晶圓廠及實(shí)驗(yàn)室的建立，國內(nèi)探針臺(tái)市場規(guī)模2019年約為10.25億元，2022年將增長到15.69億元。隨著半導(dǎo)體行...

探針臺(tái)需要特別注意的是在未加壓縮空氣時(shí)不可強(qiáng)行拉動(dòng)動(dòng)子，以免造成定子及動(dòng)子的損傷。平面電機(jī)應(yīng)使用在環(huán)境溫度15～25℃，相對(duì)濕度小于50％的環(huán)境中，其所需的壓縮空氣必須經(jīng)過干燥過濾處理且與環(huán)境空氣溫度差值小于5℃，氣壓為0．4±0．04MPa。相對(duì)于平面電機(jī)工...

探針卡沒焊好：1．探針卡針焊得不到位；2．基板上銅箔剝落，針焊接不牢固，或焊錫沒有焊好而造成針虛焊；3．探針卡布線斷線或短路； 背面有突起物，焊錫線頭針尖磨平：1.針在使用很長時(shí)間后尖正常損耗；2.操作工用過粗的砂子；3.砂針尖時(shí)用力過猛；4.砂得時(shí)間過長；針...

探針臺(tái)分類探針臺(tái)從操作上來區(qū)分有：手動(dòng)探針臺(tái)、半自動(dòng)探針臺(tái)和全自動(dòng)探針臺(tái)。從功能上來區(qū)分有：溫控探針臺(tái)、真空探針臺(tái)（很低溫探針臺(tái)）、RF探針臺(tái)、LCD平板探針臺(tái)、霍爾效應(yīng)探針臺(tái)和表面電阻率探針臺(tái)。高精度探針臺(tái)：目前世界出貨量的型號(hào)吸收了新的工藝科技例如OTS，...

晶圓探針臺(tái)還可以在晶圓劃片線上執(zhí)行任何測試電路。一些公司從這些劃線測試結(jié)構(gòu)中獲得大部分有關(guān)器件性能的信息。當(dāng)特定芯片的所有測試圖案都通過時(shí)，它的位置會(huì)被記住，以便以后在IC封裝過程中使用。有時(shí)，芯片有內(nèi)部備用資源可用于修復(fù)（即閃存IC）；如果它沒有通過某些測試...

在實(shí)際的芯測試中探針卡的狀態(tài)是非常重要的，如探針氧化，觸點(diǎn)壓力、以及探針臺(tái)的平整度，探針尖磨損和污染都會(huì)對(duì)測試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響,這些常見故障是如何形成的,而我們應(yīng)該如何避免：如果是集成電路的問題，就需要將壞的集成電路拆卸下來，將替換的集成電路安裝上去。很...