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還要對(duì)信號(hào)進(jìn)行放,因?yàn)閭鬟f過(guò)來(lái)的信號(hào)幅度比較小。圖23探頭的信號(hào)完整性考慮探頭的負(fù)載效應(yīng)主要分為兩種類(lèi)型:直流負(fù)載和交流負(fù)載。直流負(fù)載:探頭看起來(lái)象一個(gè)對(duì)地的直流負(fù)載,一般是20K歐姆。如果被測(cè)總線具有弱上拉或弱下拉特性(即上下拉電阻較),這個(gè)負(fù)載可能會(huì)導(dǎo)致邏輯錯(cuò)誤。直流負(fù)載主要由探頭尖的電阻決定,這個(gè)電阻阻值越,直流負(fù)載越小,阻值越小,直流負(fù)載越。交流負(fù)載:探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數(shù)會(huì)減小探頭帶寬和導(dǎo)致信號(hào)反射。我們需要在被測(cè)電路接收端和探頭尖處考慮信號(hào)完整性。探頭帶寬被降低主要來(lái)自2個(gè)方面:探頭電容和探頭與目標(biāo)連接的連線的電容。探頭導(dǎo)致信號(hào)反射的原因是4個(gè)方面:探頭電容和電感;探頭在被測(cè)總線上的探測(cè)位置;總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu);探頭和目標(biāo)間連線的長(zhǎng)度。對(duì)于交流負(fù)載,我們需要考慮:探測(cè)點(diǎn)在傳輸線的位置,總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和探頭和目標(biāo)間連線的長(zhǎng)度。探頭的負(fù)載除了可以用復(fù)雜的Spice模型仿真分析外,也可以用簡(jiǎn)單的RC模型簡(jiǎn)單預(yù)估負(fù)載效應(yīng)。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細(xì)考慮探頭和目標(biāo)之間的連線。為了可靠的電氣連接,有三種方式可選擇:短線探測(cè)(StubProbing),阻尼電阻探測(cè)。SD邏輯分析儀/訓(xùn)練器廠家那家好?找歐奧!梅州I2C/SPI分析儀找哪家
USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。序列步驟存儲(chǔ)總會(huì)覆蓋默認(rèn)存儲(chǔ),但只針對(duì)序列步驟存儲(chǔ)中特別指定的條件。處理默認(rèn)存儲(chǔ)和序列步驟存儲(chǔ)之間的時(shí)一定要謹(jǐn)慎。雖然設(shè)置邏輯分析儀很困難,但觸發(fā)函數(shù)可以降低此過(guò)程的難度。觸發(fā)函數(shù)是可以組合起來(lái)設(shè)置觸發(fā)的常用構(gòu)建塊。由于這些函數(shù)涵蓋了多數(shù)普通觸發(fā),因此通過(guò)選擇適當(dāng)?shù)暮瘮?shù)并將其填充到數(shù)據(jù)中即可設(shè)置觸發(fā)。下圖顯示了邏輯分析儀觸發(fā)用戶界面。請(qǐng)注意,觸發(fā)函數(shù)位于屏幕左側(cè)的一個(gè)醒目位置。圖21使用觸發(fā)函數(shù)通常,設(shè)置復(fù)雜觸發(fā)的難題是對(duì)問(wèn)題進(jìn)行分解。換句話說(shuō),就是如何將復(fù)雜觸發(fā)映射到序列步驟、分支和布爾邏輯表達(dá)式。將問(wèn)題分解為不同時(shí)發(fā)生的事件。這些事件對(duì)應(yīng)于序列步驟。掃描觸發(fā)函數(shù)列表,嘗試找出一些與步驟1中確定的事件相匹配的函數(shù)。將所有剩余事件分解為布爾邏輯表達(dá)式及其相應(yīng)操作。各個(gè)布爾邏輯表達(dá)式/操作對(duì)分別對(duì)應(yīng)于序列步驟中的一個(gè)單獨(dú)分支。請(qǐng)記住,可能存在只用于為序列步驟處理存儲(chǔ)限定的“存儲(chǔ)”分支。設(shè)置邏輯分析儀觸發(fā)與編寫(xiě)軟件相徑庭。如果使用預(yù)定義的觸發(fā)函數(shù)和較早編寫(xiě)的文檔完善的觸發(fā)來(lái)完成其他工作,就可降低設(shè)置邏輯分析儀觸發(fā)的難度。在沒(méi)有其他可用的資源時(shí)。株洲協(xié)議分析儀電話訓(xùn)練器廠家哪家強(qiáng)?歐奧就是強(qiáng)!
這八個(gè)觸發(fā)器都連接到同一時(shí)鐘信號(hào)。圖9接收器當(dāng)時(shí)鐘線上出現(xiàn)高電平時(shí),所有這八個(gè)觸發(fā)器都會(huì)在其“D”輸入處采集數(shù)據(jù)。此外,每次時(shí)鐘線上出現(xiàn)正電平時(shí)都會(huì)發(fā)生有效狀態(tài)。下面的簡(jiǎn)單觸發(fā)指示分析儀在時(shí)鐘線上出現(xiàn)高電平時(shí)在D0-D7這幾條上收集數(shù)據(jù)。圖10總線收集的數(shù)據(jù)高級(jí)觸發(fā)示例:假設(shè)想查看地址值為406F6時(shí)內(nèi)存中存儲(chǔ)了哪些數(shù)據(jù)。對(duì)高級(jí)觸發(fā)進(jìn)行配置,以在地址總線上查找碼型406F6(十六進(jìn)制)以及在RD(內(nèi)存讀取)時(shí)鐘線上查找高電平。圖11高級(jí)觸發(fā)設(shè)置在配置EdgeAndPatterntrigger(時(shí)鐘沿和碼型觸發(fā))對(duì)話框時(shí)。嘗試將該操作看作是構(gòu)造從左向右讀取的句子。Pod、通道和時(shí)間標(biāo)簽存儲(chǔ)Pod和通道的命名約定:Pod是一組邏輯分析儀通道的組合,共有17個(gè)通道,其中數(shù)據(jù)16個(gè)通道,時(shí)鐘1個(gè)通道。邏輯分析儀的通道數(shù)是Pod數(shù)的倍數(shù)關(guān)系。34通道的邏輯分析儀對(duì)應(yīng)兩個(gè)Pod,68通道邏輯分析儀對(duì)應(yīng)4個(gè)Pod,136通道邏輯分析儀對(duì)應(yīng)8個(gè)Pod。對(duì)于模塊化的邏輯分析儀。歐奧電子是Prodigy在中國(guó)區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴,ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協(xié)議分析儀測(cè)試解決方案不會(huì)收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時(shí)還有代理其他總類(lèi)的協(xié)議分析儀,包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀。
歐奧電子是Prodigy在中國(guó)區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴,ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協(xié)議分析儀測(cè)試解決方案不會(huì)收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時(shí)還有代理其他總類(lèi)的協(xié)議分析儀,包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車(chē)載以太網(wǎng)分析儀,以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測(cè)試軟件。同時(shí),歐奧電子也有提供高難度焊接,以及高速信號(hào),如UFS,DDR3/DDR4,USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。不存在中間電平。所以定時(shí)分析就像一臺(tái)只有1位垂直分辨率的數(shù)字示波器。但是,定時(shí)分析并不能用于測(cè)試參量,如果你用定時(shí)分析測(cè)量信號(hào)的上升時(shí)間,那你就用錯(cuò)了儀器。如果你要檢驗(yàn)幾條線上的信號(hào)的定時(shí)關(guān)系,定時(shí)分析就是合理的選擇。如果定時(shí)分析前一次采樣的信號(hào)是一種狀態(tài),這一次采樣的信號(hào)是另一種狀態(tài),那么它就知道在兩次采樣之間的某個(gè)時(shí)刻輸入信號(hào)發(fā)生了跳變,但是,定時(shí)分析卻不知道精確的時(shí)刻。壞的情況下,不確定度是一個(gè)采樣周期。2.跳變定時(shí)如果我們要對(duì)一個(gè)長(zhǎng)時(shí)間沒(méi)有變化的采樣并保存數(shù)據(jù),跳變定時(shí)能有效地利用存儲(chǔ)器。使用跳變定時(shí)。QSPI邏輯分析儀/訓(xùn)練器找歐奧!
即使度個(gè)樣本符合觸發(fā)條件,邏輯分析儀也只觸發(fā)一次。例如,使用的問(wèn)題是“如果不符合序列步驟中的條件會(huì)怎樣?”例如,有一個(gè)條件是“IfADDR=1000ThenTrigger”,那么如果當(dāng)前樣本是ADDR=2000,結(jié)果會(huì)怎樣?邏輯分析儀只采集下一樣本并試圖再次執(zhí)行此序列步驟。實(shí)際上,如果觸發(fā)條件是“ADDR=1000”,這相當(dāng)于“持續(xù)采集樣本直到找到條件為ADDR=1000的樣本”。因此,如果設(shè)置一個(gè)從不符合的觸發(fā)條件,邏輯分析器將不會(huì)觸發(fā)。當(dāng)符合序列步驟中的條件時(shí),使用“轉(zhuǎn)到”操作時(shí)下一步將執(zhí)行哪個(gè)序列步驟將會(huì)非常清楚,但是如果沒(méi)有使用“轉(zhuǎn)到”操作,則不可能知道執(zhí)行哪個(gè)序列步驟。在一些邏輯分析儀上,如果沒(méi)有“轉(zhuǎn)到”,這意味著應(yīng)當(dāng)執(zhí)行下一序列步驟。在其他邏輯分析儀上,意味著將再次執(zhí)行同一序列步驟。由于比較混亂,好使用“轉(zhuǎn)到”操作而不依靠默認(rèn)。狀態(tài)和定時(shí)模塊通過(guò)在每個(gè)序列步驟中自動(dòng)包含一個(gè)“轉(zhuǎn)到”或“觸發(fā)”操作來(lái)解決這一問(wèn)題。例如:IfADDR=1000andDATA=2000thenGoto1布爾邏輯表達(dá)式:當(dāng)多個(gè)序列步驟表示“后跟”時(shí),可以在序列步驟內(nèi)使用布爾邏輯表達(dá)式。示例:IfADDR=1000andDATA=2000此表達(dá)式意指在同一樣本中ADDR必須等于1000且DATA等于2000。數(shù)字分析儀哪家強(qiáng)?歐奧強(qiáng)!無(wú)錫SD分析儀售價(jià)
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因?yàn)閭鬟f過(guò)來(lái)的信號(hào)幅度比較小。圖23探頭的信號(hào)完整性考慮探頭的負(fù)載效應(yīng)主要分為兩種類(lèi)型:直流負(fù)載和交流負(fù)載。直流負(fù)載:探頭看起來(lái)象一個(gè)對(duì)地的直流負(fù)載,一般是20K歐姆。如果被測(cè)總線具有弱上拉或弱下拉特性(即上下拉電阻較),這個(gè)負(fù)載可能會(huì)導(dǎo)致邏輯錯(cuò)誤。直流負(fù)載主要由探頭尖的電阻決定,這個(gè)電阻阻值越,直流負(fù)載越小,阻值越小,直流負(fù)載越。交流負(fù)載:探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數(shù)會(huì)減小探頭帶寬和導(dǎo)致信號(hào)反射。我們需要在被測(cè)電路接收端和探頭尖處考慮信號(hào)完整性。探頭帶寬被降低主要來(lái)自2個(gè)方面:探頭電容和探頭與目標(biāo)連接的連線的電容。探頭導(dǎo)致信號(hào)反射的原因是4個(gè)方面:探頭電容和電感。探頭在被測(cè)總線上的探測(cè)位置;總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu);探頭和目標(biāo)間連線的長(zhǎng)度。對(duì)于交流負(fù)載,我們需要考慮:探測(cè)點(diǎn)在傳輸線的位置,總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和探頭和目標(biāo)間連線的長(zhǎng)度。探頭的負(fù)載除了可以用復(fù)雜的Spice模型仿真分析外,也可以用簡(jiǎn)單的RC模型簡(jiǎn)單預(yù)估負(fù)載效應(yīng)。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細(xì)考慮探頭和目標(biāo)之間的連線。為了可靠的電氣連接,有三種方式可選擇:短線探測(cè)(StubProbing),阻尼電阻探測(cè)。梅州I2C/SPI分析儀找哪家